電壓作用下電介質(zhì)中產(chǎn)生的一切損耗稱為介質(zhì)損耗或介質(zhì)損失。如果介質(zhì)損耗很大,會使電介質(zhì)溫度升高,促使材料發(fā)生老化,如果介質(zhì)溫度不斷上升,甚至會把電介質(zhì)融化、燒焦,喪失絕緣能力,導致熱擊穿,因此,電介質(zhì)損耗的大小是衡量絕緣介質(zhì)電性能的一項重要指標。然而不同設(shè)備由于運行電壓、結(jié)構(gòu)尺寸等不同,不能通過介質(zhì)損耗的大小來衡量對比設(shè)備好壞。因此引入了介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ(又稱介質(zhì)損失角正切值)的概念。
電阻率測定儀介質(zhì)損耗因數(shù)的定義：
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ只與材料特性有關(guān),與材料的尺寸、體積無關(guān),便于不同設(shè)備之間進行比較。
電阻率測定儀應(yīng)用介質(zhì)損耗因素及電阻率測定儀測量介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。它能反映出絕緣的一系列缺陷,如絕緣受潮,油或浸漬物臟污或劣化變質(zhì),絕緣中有氣隙發(fā)生放電等。這時流過絕緣的電流中有功分量IRX增大了,tgδ也加大。
按照電力設(shè)備預(yù)防性試驗規(guī)程的規(guī)定,對多種電力設(shè)備(如電力變壓器、發(fā)電機組、高壓開關(guān)、電壓電流互感器、套管、耦合電容等)都需要做介質(zhì)損耗因素(tgδ)的測量。
所以tgδ試驗是一項*而且非常有效的試驗。能較靈敏地反映出設(shè)備絕緣情況,發(fā)現(xiàn)設(shè)備缺陷。
電阻率測定儀主要用于測量炭制品和石墨制品以及其它導電棒狀材料在實驗室常溫下的電阻率，包括粉體材料。